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IPT: Especialista belga estará em bate-papo do Instituto de Pesquisas Tecnológicas no dia 20

Metrologia é fundamental para qualidade e competitividade dos produtos industriais em mercados globais

Para participar dos mercados nacional e internacional, cada país deve ter produtos de alta qualidade e preços competitivos. Também precisa contar com um sistema metrológico altamente confiável, que forneça resultados exatos, rastreáveis a padrões nacionais e internacionais com incertezas conhecidas. Um sistema como este permitirá que resultados obtidos em diversos laboratórios possam ser comparados a qualquer tempo e em qualquer lugar. Este conjunto dará a garantia necessária às transações comerciais. Contribuirá para a expansão dos negócios a expansão dos negócios aumentando a produtividade e a competitividade do Brasil e de outros países. A metrologia é um instrumento vital  para o reconhecimento da qualidade de bens e serviços comercializados no mundo todo.

No dia 20 de julho, o IPT (Instituto de Pesquisas Tecnológicas do Estado de São Paulo) promoverá um debate sobre este assunto relevante para a tecnologia e a indústria química no Brasil. Contará com um convidado especial, o professor Paul De Bièvre, um dos maiores especialistas internacionais na área de metrologia em química.

O objetivo da Co-operation on International Traceability in Analytical Chemistry (Citac) é desenvolver e disseminar os conceitos e práticas relativas à rastreabilidade em química analítica, propiciando suporte técnico aos laboratórios na obtenção de resultados reconhecidos dentro de padrões internacionais. A atual presidente do órgão internacional é a pesquisadora Vera Ponçano, diretora do Centro de Metrologia em Química do IPT (CMQ).

Serviço: Vera Ponçano, juntamente com Olívio Pereira do Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (Ipen) e Terezinha de Carvalho, bolsista do CNPq no Programa Brasileiro de Metrologia em Química - Fase II, mediarão o bate-papo com o professor De Bièvre na próxima quinta-feira.

Perguntas poderão ser feitas on-line em português, com respostas em inglês. Depois do bate-papo o conteúdo estará disponível, na íntegra, no site do IPT.

Agenda

20/07/2006 - 14h30 - Acesse: www.ipt.br/atividades/servicos/chat/

Tendências da Metrologia em Química

Prof. Dr. Paul De Bièvre - Especialista da área de metrologia em química. Seu trabalho no mundo da metrologia iniciou-se há mais de 40 anos no IRMM (Institute for Reference Materials and Measurements) da Bélgica. Tem atuado em vários comitês relacionados à área, como o CCQM (Comitê Consultivo para a Quantidade de Matéria do CIPM) Comitê Internacional de Pesos e Medidas e constantemente está em algum lugar do mundo (já esteve em mais de 200 países) ministrando palestras e cursos.

Desde 1995 é editor-chefe do Journal Accreditation and Quality Assurance  e desde 1998 tem atuado como consultor independente.

Co-fundador de duas importantes organizações voltadas à metrologia em química, a Eurachem (A Focus for Analytical Chemistry in Europe) e a CITAC (Co-Operation on International Traceability in Analytical Chemistry), cujo objetivo é desenvolver e disseminar os conceitos e práticas relativas à rastreabilidade em química analítica, propiciando suporte técnico aos laboratórios na obtenção de resultados reconhecidos dentro de padrões internacionais, presidido por Vera Ponçano, diretora do CMQ - Centro de Metrologia em Química do IPT.

Da Assess

07/16/2006

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