Justiça: Ipem-SP recebe delegação do Instituto de Metrologia da China
Funcionamento do sistema nacional de metrologia foi um dos assuntos do encontro
Nesta quinta-feira, 17 de agosto, o Ipem-SP recebeu a visita do diretor-geral do Instituto Nacional de Metrologia da China, Dr. Tong Guangqiu, e mais quatro profissionais ligados à mesma instituição para troca de informações sobre o segmento de metrologia.
A delegação foi recepcionada pelo superintendente do Ipem, Newton Machado Morales, e pela diretoria técnica e administrativa do instituto.
Esclarecimentos sobre o funcionamento do sistema nacional de metrologia, avaliação da conformidade e o trabalho do Ipem-SP enquanto órgão executor do sistema
08/18/2006
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